课程时长:35040小时0分钟

DFT可测性设计理论和实践

DFT可测性设计理论和实践

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199学点
开学:2016-02-14 20:31   |   结束:2020-02-13 20:31
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课程介绍:

启芯学堂DFT可测试性设计理论和实践

课程简介

  该课程是对可测试设计(DFT)内容的一个系统化的介绍。通过对该课程的学习,学员不仅能   对DFT的概念及理论有系统的认识,更重要的是通过课堂内容及实验的讲解,可以对DFT所涉   及的问题有一定的分析和解决能力。

开课时间

 

课程时长

  22学时 (每学时45分钟)

课程对象

   本课程适合于使用数字电路进行科研和芯片设计的学生和工程师,也适合于有志于从事数字      芯片设计工作,期望进入数字芯片设计领域的相关人员。参加学习的学员可以是零基础的理      工科本科生或研究生。

课程费用

   199

课程资料

   课件(纸质),实验手册(纸质),实验代码,视频教程

授课方式

  视频

课程讲师

  Ben

课程大纲

   1.  VLSI test

   2.  Fault model

   3.  ATPG

   4.  Fault simulation

   5.  Scan

   6.  JTAG

   7.  Logic BIST

   8.  Test compression

   9.  Memory test

视频教程

  打造个人芯片设计学习平台

  SoC芯片设计基本技能

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